（4）可靠性和坏块管理的比较

  一般来说，NOR闪存的可靠性要高于NAND闪存，这是因为NOR闪存的接口简单，数据操作少，位交换操作少，因而一般用在对可靠性要求高的地方。相反，NAND闪存接口和操作均相对复杂，位交换操作也很多，因而出现差错的几率会大很多，而且坏块是不可避免的，还有坏块都是随机分布的。因此，在使用NAND Flash时意识到有坏块的可能性是非常重要的。为了检测数据的可靠性，在应用NAND Flash的系统中一般都会采用一定的坏区管理策略，而管理坏区的前提是能比较可靠地进行坏区检测。

  所以，为防止使用时向坏块写入数据，在编写和开发驱动程序的时候，必须要配合EDC/ECC(错误探测/错误更正)和BBM(坏块管理)等措施来保障数据的可靠性，这就对开发人员的驱动开发能力提出了一个很高的要求。

通过以上的比较可以发现，NAND更适用于复杂的文件应用，但是由于NAND的使用相对复杂，所以对驱动程序的开发能力有较高的要求。简单的说，就是NOR闪存是随机存储介质，用于数据量较小的场合；NAND闪存是连续存储介质，适合存放大的数据，但需要驱动程序和坏块管理优化等开发能力。

  2.在WinCE下如何选择合适的Flash闪存？

  NAND Flash具有存取速度快、体积小、成本低的特点,适宜作为海量数据的存储设备。但大容量的NAND Flash的实现方案也必须要小心处理动态扇区分配、坏块管理。因此，如何做到“鱼与熊掌，两者兼得”，可以从以下几个角度进行考虑：

  （1）从使用目的角度来选择
 
  在选择存储解决方案时，开发人员应该在多种因素之间进行权衡，以获得较高的性价比。一般的原则是：在大容量的多媒体应用中选用NAND闪存，而在数据/程序存贮应用中选用NOR闪存。根据这一原则，设计人员也可以把两种闪存芯片结合起来使用，用NOR芯片存储程序，用NAND芯片存储数据，使两种闪存的优势互补。

  以我所负责的这个智能手机的项目为例，对于追求小巧优雅的手机将采用NOR＋RAM的设计方案，因为采用支持XIP技术的NOR闪存能够直接运行OS，速度很快，既简化了设计又降低了成本。但NOR闪存的不足之处是存储密度较低，所以在追求大存储容量的时候，我们是采用NAND＋RAM的设计。对于这两种方案，很难说哪一种更好，因为我们不能离开具体的产品而从某一个方面单纯地去评价。